正電子壽命時(shí)間譜系統

概述

正電子的存在首先由Dirac 提出，在20 世紀30 年代通過(guò)實(shí)驗得到證實(shí)。正電子是電子的反粒子。正電子與電子的碰撞將導致兩個(gè)粒子湮滅和發(fā)射兩個(gè)特征511-keV 伽馬射線(xiàn)。這種現象有助于測試量子理論關(guān)于電子和正電子與物質(zhì)相互作用之間差異的預測。此外，正電子已被證明是研究各種結構和過(guò)程的有用工具。正電子的壽命可用來(lái)測量湮滅點(diǎn)處的局部電子密度。借助于發(fā)射的伽馬射線(xiàn)可以輕松檢測湮滅。正電子壽命技術(shù)是對單原子尺度空洞敏感的少有的幾種方法之一。

優(yōu)點(diǎn)

• 經(jīng)過(guò)全面測試和集成的“交鑰匙"系統... 您只需要一個(gè)正電子源。

• 一整套帶標簽的電纜和連接器。

• 兩個(gè)905-21 型探測器組件。

• 有關(guān)測試過(guò)程和結果的文檔。

PLS-System 包括

• 2 個(gè)905-21 型探測器組件。

• 2 個(gè)583B 型恒定分數鑒別器。

• 2 個(gè)556 型高壓電源。

• 1 個(gè)414A 型快速符合。

• 1 個(gè)567 型時(shí)間幅度轉換器/單通道分析儀。

• 1 個(gè)928-MCB 型多通道分析儀，帶MAESTRO 軟件。

• 1 個(gè)DB463 型延遲盒。

• 1 個(gè)4001A/4002D 型NIM 機箱和電源。

• 1 個(gè)113 型前置放大器。

• 1 個(gè)575A 型光譜放大器。

• 1 臺個(gè)人電腦。

• 1 套帶標簽的電纜和連接器。

• 1 個(gè)規程與工廠(chǎng)測試文檔。

該系統的保證時(shí)間分辨率為200 皮秒（通常測量小于180 皮秒），使用Co-60 源在窄能量窗口進(jìn)行測量。

（此系統不含源。）

PALS：達到納米級。

軟凝聚物質(zhì)最重要的一個(gè)結構問(wèn)題是由于不規則堆積、密度波動(dòng)和拓撲約束而在分子之間存在未占據或自

由體積。自由體積被認為是能夠進(jìn)行分子重組的體積分數，并且在確定系統的物理和機械性質(zhì)方面具有重

要意義。

PALS 是一種成熟、特別和多功能的技術(shù)，可以直接測量這些亞納米級分子自由體積。PALS 實(shí)驗將正電子

注入到被測材料中然后測量它與材料的一種產(chǎn)生伽馬射線(xiàn)的電子一起湮滅之前的時(shí)間長(cháng)度。